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芯片研發(fā)專用低溫濕熱老化箱構(gòu)造美觀,高效安全,用途廣泛高低溫試驗(yàn)箱是航空,汽車,家電,科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備,用于測試和確定電工,電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫,低溫,或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
芯片研發(fā)專用低溫濕熱老化箱參數(shù)
技術(shù)參數(shù)
1.溫度范圍：0℃-100℃ -20℃-100℃ -40℃-100℃ -60℃-100℃ -70℃-100℃
2.低溫至常溫，也可按客戶需要定制非標(biāo)試驗(yàn)箱，低溫試驗(yàn)室
3.溫度波動度：±0.5℃（空載時）
4.溫度偏差：≤±2℃
5.升降溫平均速率：0.7℃～1.0℃/min （空載時）
6.時間設(shè)定范圍：0～9999 小時
7.電源要求：AC380V
宇航志達(dá)試驗(yàn)裝備（東莞市）有限公司主營冷熱沖擊試驗(yàn)箱，高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱，大型冷熱沖擊試驗(yàn)箱，小型冷熱沖擊試驗(yàn)箱，三槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱等產(chǎn)品。